Fechar
Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis

Lista de arquivos depositados em:

sid.inpe.br/mtc-m21b/2017/04.19.15.11

Nome Última modificação Tamanho
 :: morelhao_nanoscale.pdf             15/05/2017 18:10 2.1 MiB
  2 arquivos escondidos
Fechar